列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为10

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微机型荧光白度仪由光源、光学系统、探测系统、微机数据处理与显示系统等构成。定义光谱漫反射击比均为1的理想表面的白度为100，光谱漫反射比均为零的黑表面白度为0。

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真空测漏仪是一种自动控制操作方便简单的测漏检测设备，适用于美容、食品、胶水、涂料、医药等行业作包装、密封检测。

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C-XS100型 可勃吸收性测定仪是纸张和纸板表面吸水性测定的专用仪器，采用吸收性试验多种方法中可勃（Cobb）试验法进行测试。其主要技术指标和性能参数符合相关标准规定。

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Riceter-f提高了以往测定部位的耐久性，并使显示文字更为清晰。此外，该设备已成为国际品质系统ISO9001的认证对象，这也是一种品质保证中内含的功能。

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CSY-L5塑胶颗粒含水率测量仪可广泛应用于一切需要快速测定水分的行业，如PP塑胶、 PE塑胶、 PVC塑胶、 PS塑胶、 PA塑胶、PC塑胶、PET塑胶、  PPS塑胶、 塑胶助剂、 塑胶原料 、塑胶粒子、塑胶颗粒、塑料粒子、塑料颗粒中的水分含量。

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旋光度测量范围：-180o ~ +180o

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TC-G60光泽度仪是我公司按相关标准规定研究开发采用现代机械设计理念和微机处理技术进行精心合理设计的一种新型高精度智能型试验仪

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-20~650°C，可外接热电偶测棒 K/J/T/E/R，放射率设定 : 0.2~1 ，(D:S)=7:1 ，RS-232连接接口(软件选购)

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条码检测仪条码检测仪是集光、机、电、计算机技术于一体，根据标准和ISO 标准设计、生产，是科技攻关项目的科研成果，全中文显示，自动判别条码码制,操作使用极为方便。

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